Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson

• 更新時間：2016-08-16
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Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson標(biāo)準配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱

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Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson
SURTRONIC S116 粗糙度儀
一、S116標(biāo)準配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱
 
二、技術(shù)參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 ：
顯示屏每頁顯示7個測試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結(jié)果
數(shù)據(jù)存儲：
儀器可以存儲100個測試數(shù)據(jù)和一個圖形
儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時間：4小時
電池壽命：充電一次可以做2000次測試
待機時間：5000小時
由待機狀態(tài)到開機測試狀態(tài)，zui長時間不超過1秒I
自動關(guān)機：30秒– 6小時可以自行設(shè)置
Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson 
三、技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍：200 um 100 um 10 um 
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 
重復(fù)精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動掃描
校準：
自動軟件校準    標(biāo)準：ISO4287

 
四、測試參數(shù)：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數(shù)：
執(zhí)行標(biāo)準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測試單位：um/uin

五、可選附件
測試平臺：
00級大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可調(diào)Y軸V型鐵
可調(diào)范圍：±5mm
V型鐵長度100mm
 
SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進：
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；
2、顯示屏為觸摸屏；
3、可以顯示測試圖形；
4、SURTRONIC 25只能測試10個參數(shù)，S116在不同標(biāo)準下可以測量12、11、14個參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；
5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準測試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動軟件校準。方便使用；
6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個方向觀察測試結(jié)果；
7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；
8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能；
9、可以使用U盤直接存儲，一個4G容量U盤可存儲3.9萬個圖形，數(shù)據(jù)可以存儲70批次，每批次為10萬個測試數(shù)據(jù)。