form talysurf pgi 2540型粗糙度輪廓儀

• 更新時(shí)間：2021-05-13
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form talysurf pgi 2540型粗糙度輪廓儀
Talysurf PGI 2540該系統(tǒng)具有***的高分辨率0.2nm（納米），因而成為當(dāng)今市場(chǎng)上具有*高傳感器分辨率的表面形貌精密測(cè)量?jī)x器。PGI 2540是一種適用于光學(xué)工業(yè)的超精密表面形貌測(cè)量?jī)x，該系統(tǒng)具有25mm的大量程且相應(yīng)分辨率僅為0.4nm（納米）。

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 form talysurf pgi 2540型粗糙度輪廓儀

Talysurf PGI 2540該系統(tǒng)具有***的高分辨率0.2nm（納米），因而成為當(dāng)今市場(chǎng)上具有*高傳感器分辨率的表面形貌精密測(cè)量?jī)x器。

PGI 2540是一種適用于光學(xué)工業(yè)的超精密表面形貌測(cè)量?jī)x，該系統(tǒng)具有25mm的大量程且相應(yīng)分辨率僅為0.4nm（納米）。

  形狀測(cè)量：量程25mm，相應(yīng)分辨率0.4nm
  表面粗糙度和形狀測(cè)量：量程12.5mm，相應(yīng)分辨率0.2nm
  極低噪音：< 1nm RMS
  改進(jìn)的自動(dòng)測(cè)針升降作為系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)模式
  根據(jù)導(dǎo)出的系數(shù)進(jìn)行的非球面分析作為標(biāo)準(zhǔn)模式

Talysurf PGI 2540高分辨率非球面測(cè)量系統(tǒng)形狀測(cè)量，0.4mm分辨率下25mm范圍表面光潔度和形狀，0.2nm分辨率下12.5mm范圍非常低的噪聲，1nm（0.04ìin）RMS用戶可編程，包括測(cè)針舉升大容量， Talysurf PGI 2540型200毫米橫向裝置可提供您可信賴的結(jié)果，并具有行業(yè)*先的性能...產(chǎn)品

規(guī)格如有更改，恕不另行通知。 注意，并非所有儀器都包含所有功能。 非球面分析Talysurf PGI 2540表格隨附泰勒·霍布森（Taylor Hobson）專用的非球面分析軟件。 這提供了高達(dá)20階的非球面分析。 該軟件的主要功能包括：•以用戶定義的x間隔生成SAG表•派生系數(shù)分析•像散分析•基本半徑優(yōu)化球面衍射分析（可選）當(dāng)與非球面分析軟件的結(jié)果結(jié)合使用時(shí)，衍射分析軟件 .........

該系統(tǒng)具有200mm的行程長(zhǎng)度，并帶有電動(dòng)測(cè)針舉升機(jī)構(gòu)，可在不移動(dòng)跡線之間移動(dòng)色譜柱位置的情況下進(jìn)行許多組件的測(cè)量。 這提高了測(cè)量的穩(wěn)定性。 該系統(tǒng)還配備了主動(dòng)防振裝置和高質(zhì)量的環(huán)境防護(hù)罩，以減少空氣傳播和地面?zhèn)鞑サ恼駝?dòng)的影響。

英國(guó)泰勒霍普森TaylorHobson是粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀以及圓柱度儀的發(fā)明者，提供從手持的現(xiàn)場(chǎng)級(jí)測(cè)量設(shè)備Surtronic  25、Surtronic DUO、Surtronic S-100系列新型粗糙度儀，經(jīng)濟(jì)型粗糙度輪廓儀Form TalySurf Intra，精密計(jì)量室的大型測(cè)量系統(tǒng)Form TalySurf  i60/i120/i200電感系列，高精度PGI系列，以及用于研發(fā)而具有世界精度的CCI三維形貌測(cè)量系統(tǒng)和圓度儀Taylor  Talyrond 130、圓柱度儀Talyrond 131C、及高精度圓柱度Talyrond 365/385/395和Talyrond  565/585/595系列。

英國(guó)泰勒TaylorHobson是粗糙度儀和輪廓儀的發(fā)明者，提供從手持的現(xiàn)場(chǎng)級(jí)測(cè)量設(shè)備便攜式粗糙度儀Surtronic 25，Surtronic DUO，精密計(jì)量室的大型測(cè)量系統(tǒng)Form TalySurf系列，包括Intra粗糙度儀，以及用于研發(fā)而具有世界高精度的CCI和圓度儀Taylor Talyrond。憑借百年的深厚底蘊(yùn)和強(qiáng)大技術(shù)優(yōu)勢(shì)，英國(guó)泰勒Taylor-Hobson在精密測(cè)量領(lǐng)域中始終處于**地位，并站在表面和形狀測(cè)量領(lǐng)域的前沿。