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產(chǎn)品中心
| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
磁性涂層測(cè)厚儀MikroTest - ElektroPhysik
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類檢測(cè)設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。
.作為*產(chǎn)品的進(jìn)口代理商而言，我們不但為廣大客戶提供詳細(xì)的售前咨詢工作，更注意完善售后服務(wù)。憑著行業(yè)之優(yōu)勢(shì)，信息之優(yōu)勢(shì)，產(chǎn)品之優(yōu)勢(shì)及價(jià)格之優(yōu)勢(shì)在市場(chǎng)開發(fā)上取得的良好效應(yīng)；與各行各業(yè)的用戶朋友和廣大的經(jīng)銷商建立的良好而密切的業(yè)務(wù)聯(lián)系。
MikroTest是一種常堅(jiān)固的涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量鋼上非磁性涂層的厚度。MikroTest Ni系列的特殊型號(hào)測(cè)量鋼（MikroTest NiFe 50）和非鐵磁基底（MikroTest Ni 50和Ni 100）上的電鍍鎳涂層的厚度。MikroTest耐溶劑，金屬外殼非常耐用。磁鐵及其對(duì)*ElectroPhysics制造工藝的持久耐用性，使其在數(shù)十年內(nèi)保持在公差值范圍內(nèi)。
MikroTest是過去40年來世界上使用廣泛的涂層測(cè)厚儀。 MicroTest符合所有模擬磁性涂層測(cè)厚儀的高技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。鋼上的所有非磁性涂層和鋼上的鍍鋅鎳。
MikroTest提供11種不同型號(hào)。平衡測(cè)量系統(tǒng)可在任何角度提供準(zhǔn)確讀數(shù)：水平，垂直和頭頂。因此，儀表允許在曲面上進(jìn)行測(cè)量。因此，由于自動(dòng)操作，可以在管道和圓形部件上為您提供準(zhǔn)確的測(cè)量。
涂層厚度的測(cè)量基于磁吸引力。吸引力與永磁體和鋼基板之間的距離有關(guān)。該距離表示測(cè)量中的涂層的厚度。借助于連接到磁鐵臂的彈簧將磁鐵從表面抬起。提升磁鐵所需的力與扭轉(zhuǎn)彈簧的旋轉(zhuǎn)角度直接相關(guān)。因此，該測(cè)量原理特別適用于銅，鋁和其他有色金屬上的電鍍鎳。該測(cè)量原理可確保全自動(dòng)測(cè)量。
功能描述（部分功能僅適用特定型號(hào)）
Mils型號(hào)包括NIST可溯源校準(zhǔn)證書，Micron型號(hào)包括工廠證書
準(zhǔn)確，操作簡(jiǎn)單
無需校準(zhǔn)
簡(jiǎn)單的設(shè)置和測(cè)量
所有儀表在沒有電源或電池的情況下運(yùn)行
一點(diǎn)測(cè)量
金屬外殼可防止機(jī)械沖擊
金屬外殼和測(cè)量系統(tǒng)耐溶劑
自動(dòng)模型控制磁鐵的發(fā)布，實(shí)現(xiàn)很高的精度和可重復(fù)性
高溫選擇
提供可選的高溫套件（MK-HT），用于使用高達(dá)212°F（100°C）的MicroTest型號(hào)。 因此，它可以在高達(dá)572°F（300°C）的表面溫度下使用。
環(huán)境溫度-20°C - 100°C
符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2178，DIN 50 982，ASTM B 499，E 376，D 1186，G 12，B 530，BS 5411，ISO 2361
尺寸規(guī)格：215mm x 55mm x 29mm塑料手提箱：235mm x 185mm x 46mm
重量箱包括儀表約。 560克
校準(zhǔn)墊片
以下是兩個(gè)技術(shù)原因，為什么你不能使用塑料墊片/箔加零板來檢查MicroTest的校準(zhǔn)：
1.所有塑料墊片/箔片都有一定的預(yù)應(yīng)力，當(dāng)磁鐵抬起時(shí)它們會(huì)略微彎曲，這種效果是不準(zhǔn)確的讀數(shù)
2.塑料墊片/箔片具有一定的靜電電荷，因此會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。
| 型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 測(cè)量精度 | 小測(cè)量區(qū) 直徑 | 小曲率半徑 | 基體 厚度 | 適用范圍 | |
| 凸 | 凹 | ||||||
| MikroTest G | 0～100μm | 1μm或5% | 20mm | 5mm | 25mm | 0.5mm | 鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
| MikroTest F | 0～1000μm | 5μm或5% | 30mm | 8mm | 25mm | 0.5mm | |
| MikroTest S3 | 0.2～3mm | 5% | 30mm | 15mm | 25mm | 1.0mm | |
| MikroTestT S5 | 0.5～5mm | 5% | 50mm | 15mm | 25mm | 1.0mm | |
| MikroTest S10 | 2.5～10mm | 5% | 50mm | 15mm | 25mm | 2.0mm | |
| MikroTest S20 | 7.5～20mm | 5% | 100mm | 100mm | 150mm | 7.0mm | |
| MikroTest NiFe50 | 0～50μm | 2μm+8% | 20mm | 10mm | 25mm | 0.5mm | 鋼上電鍍鎳層 |
| MikroTest Ni50 | 0～50μm | 1μm+5% | 15mm | 5mm | 25mm | - | 非鐵金屬基體上電鍍鎳層 |
