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菲希爾MMS pc2(SIGMASCOPE)銅厚測(cè)厚儀

  • 更新時(shí)間:2022-04-13
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菲希爾MMS pc2(SIGMASCOPE)銅厚測(cè)厚儀
電路板表面和通孔中的鍍銅層測(cè)量 (SIGMASCOPE)
? 電路板制造過(guò)程中,線路板表面銅層厚度測(cè)量(不受中間層銅層影響) (SR-SCOPE)

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品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車(chē)

菲希爾MMS pc2(SIGMASCOPE)銅厚測(cè)厚儀

電路板表面和通孔中的鍍銅層測(cè)量 (SIGMASCOPE)
電路板制造過(guò)程中,線路板表面銅層厚度測(cè)量(不受中間層銅層影響) (SR-SCOPE)

FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng),有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。模塊化的設(shè)計(jì)使用戶可以自己配置不同的測(cè)試模塊。【FISCHERSCOPE MMS pc2 】臺(tái)式涂層測(cè)厚儀用于通用的涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試,具有彩色觸摸屏、可進(jìn)行個(gè)性化配置并帶有各種設(shè)備接口。Fischerscope MMS PC2的模塊化設(shè)計(jì)不僅方便了儀器的定制配置,而且還使用了大量的模塊和探頭進(jìn)行了改裝。根據(jù)任務(wù)要求,采用不同的測(cè)量方法,如渦流法、磁感應(yīng)法、磁法和電阻法。測(cè)量了金屬基體上涂層的厚度,以及不同導(dǎo)電材料上的金屬涂層的厚度。該儀器也可以用來(lái)測(cè)量有色金屬的導(dǎo)電性以及雙相或奧氏體鋼中的鐵素體含量。

  ?  可以測(cè)量幾乎所有金屬涂層材料
  ?  可以測(cè)量雙涂層系統(tǒng)
  ?  可以測(cè)量電絕緣材料上的金屬涂層
  ?  可以測(cè)量有機(jī)涂層,如油膜或潤(rùn)滑脂膜
  ?  可以測(cè)量非鐵磁性金屬材料電導(dǎo)率的測(cè)量
  ?  可以測(cè)量測(cè)試焊縫質(zhì)量、奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量
  ?  應(yīng)用汽車(chē)行業(yè)
  ?  應(yīng)用于電子工業(yè)
  ?  應(yīng)用于油漆行業(yè)
  ?  應(yīng)用于涂層技術(shù)
  ?  應(yīng)用于黃金、手表、珠寶
  ?  應(yīng)用于材料分析和材料測(cè)試
  ?  用于進(jìn)、出檢驗(yàn)的質(zhì)量保證
  ?  用于正在進(jìn)行的生產(chǎn)中的常規(guī)試驗(yàn)或取樣
  ?  用于連續(xù)生產(chǎn)控制
  ?  可集成到質(zhì)量管理系統(tǒng)和公司網(wǎng)絡(luò)中


菲希爾MMS pc2(SIGMASCOPE)銅厚測(cè)厚儀 SR-SCOPE模塊:

這一插入式模塊采用了微電阻方法,適合于測(cè)量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板,也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層,以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。銅的厚度在0.1至10 µm (0.04 至0.4 mils) 以及5至120 µm (0.2至4.7 mils),不受中間銅層的干擾。

Module SR-SCOPE

SIGMASCOPE-PHASCOPE/TEMPERATURE

該模塊采用相位電渦流法,適用于以下測(cè)量要求:非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測(cè)量(采用內(nèi)置或外置溫度傳感器可自動(dòng)補(bǔ)償溫度變化);非鐵磁性金屬鍍層的厚度,如鋼鐵上的鋅、銅、鋁等,尤其適合表面粗糙的情況或是在非導(dǎo)電基材上的非鐵磁性金屬鍍層測(cè)厚。非鐵磁性低電導(dǎo)率基材上非鐵磁性高電導(dǎo)率金屬鍍層的厚度測(cè)量,如黃銅或奧氏體材料上的銅厚測(cè)量。鋼鐵上鎳鍍層的厚度測(cè)量。阻焊材料之下的銅層的厚度。

SIGMASCOPE-PHASCOPE/TEMPERATURE


篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有:
   ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀;
   ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x;
   ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺;
   ==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀;
   ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
   ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀;
   ==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀;
   ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺;
   ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
   ==>>德國(guó)森薩帕特sensopart工業(yè)傳感器,光電傳感器、超聲波傳感器、測(cè)距傳感器;
   ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器;
   ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
   ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī);
   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.


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